Inhaltsangabe
While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact of ASIC testability on total system cost and performance, and reviews the commercial test systems that are currently available. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
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Designer's Guide to Testable Asic Devices
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DESIGNER'S GUIDE TO TESTABLE ASIC DEVICES (HB)
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Designer's Guide to Testable A.S.I.C. Devices
Verlag:
Kluwer Academic Publishers Group, 1991
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Zustand: New. While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o Num Pages: 298 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 235 x 155 x 20. Weight in Grams: 607. . 1991. Hardback. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9780442002213
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Designer\ s Guide to Testable ASIC Devices
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Gebunden. Zustand: New. KlappentextWhile making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows reade. Bestandsnummer des Verkäufers 458435570
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Designer*s Guide to Testable Asic Devices
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