9780442002213 - designer's guide to testable asic devices von needham, wayne m. (12 Ergebnisse)
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Zustand: New. While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o Num Pages: 298…pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 235 x 155 x 20. Weight in Grams: 607. . 1991. Hardback. . . . .
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Gebunden. Zustand: New. KlappentextWhile making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows reade.
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Zustand: New. While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o Num Pages: 298…pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 235 x 155 x 20. Weight in Grams: 607. . 1991. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o….
