Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.) - Hardcover
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Verlag:
North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
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Hardcover
Anbieter: MB Books, Derbyshire, Vereinigtes Königreich
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Hardcover. Zustand: Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request. Bestandsnummer des Verkäufers 943313
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Volume 7)
Verlag:
North Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
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Hardcover
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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Zustand: Fair. Volume 7. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570. Bestandsnummer des Verkäufers 9537239
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Verlag:
North Holland, Amsterdam, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
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Hardcover
Erstausgabe
Anbieter: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Vereinigtes Königreich
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Hard Cover. Zustand: Good. No Jacket. First edition. From an academic library with the usual stamps etc. Bestandsnummer des Verkäufers PF3875
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