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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.) - Hardcover
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Verlag:
North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
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Hardcover
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Verlag:
North Holland, Amsterdam, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
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Hardcover
Erstausgabe
Anbieter: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Vereinigtes Königreich
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