Computed electron micrographs defect von head a k (4 Ergebnisse)
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
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Computed electron micrographs and defect identification.
Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.
Verlag: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
- Hardcover
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In den WarenkorbIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
