Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability - Hardcover

Sharma, Ashok K.

 
9780780310001: Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Hardcover
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Verlag: Wiley-IEEE Press, 2002

Inhaltsangabe

Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Über die Autorin bzw. den Autor

ASHOK K. SHARMA is the author of Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability. He is currently working as a reliability engineering manager at NASA, Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Wiley-IEEE Press
Erscheinungsdatum
2002
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0780310004
ISBN 13 
9780780310001
Einband
Gebundene Ausgabe
Auflage
1
Anzahl der Seiten
480
Kontakt zum Hersteller
Wiley-VCH GmbH
product_safety@wiley.com

Boschstrasse 12
Weinheim
69469
Deutschland

Weitere beliebte Ausgaben desselben Titels

9780471462439: Semiconductor Memories & Advanced Semiconductor Memories, 2 Volume Set: Technology, Testing, and Raliability. Architectures, Designs, and Applications

Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  0471462438 ISBN 13:  9780471462439
Verlag: Wiley-IEEE Press, 2003
Hardcover