Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation: 73 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science) - Hardcover
Inhaltsangabe
Book by KwangTing Tim Cheng Agrawal Vishwani D
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
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Zustand: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 148 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1989. Hardback. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9780792390251