Verwandte Artikel zu Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide...
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard: 22B (Frontiers in Electronic Testing) - Hardcover
Inhaltsangabe
This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Reseña del editor
This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Neu kaufen
Diesen Artikel anzeigen
EUR 102,69
EUR 2,28 für den Versand innerhalb von/der USA
Versandziele, Kosten & Dauer
Suchergebnisse für Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide...
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Anbieter: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10. Bestandsnummer des Verkäufers 0727IYQ8381
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. 178 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Bestandsnummer des Verkäufers ZB1126153
Anzahl: 1 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-Constrained Testing of Vlsi Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers 1176868-n
Anzahl: 15 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Hardcover)
Verlag:
Kluwer Academic Publishers, New York, NY, 2003
ISBN 10: 140207235X
ISBN 13: 9781402072352
Neu
Hardcover
Anbieter: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: new. Hardcover. Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Bestandsnummer des Verkäufers 9781402072352
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers ABLIING23Mar2411530144564
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-Constrained Testing of Vlsi Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: As New. Unread book in perfect condition. Bestandsnummer des Verkäufers 1176868
Anzahl: 15 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. In. Bestandsnummer des Verkäufers ria9781402072352_new
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Print-on-DemandAnbieter: moluna, Greven, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu. Bestandsnummer des Verkäufers 4094936
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9781402072352
Anzahl: 15 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Verlag:
Springer-Verlag New York Inc., 2003
ISBN 10: 140207235X
ISBN 13: 9781402072352
Neu
Hardcover
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardback. Zustand: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 1020. Bestandsnummer des Verkäufers C9781402072352
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar