From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Softcover

Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Khare, Jitendra B.; Maly, Wojciech

 
9781461313786: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications
Softcover
ISBN 10: 1461313783 ISBN 13: 9781461313786
Verlag: Springer, 2011

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2011
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1461313783
ISBN 13 
9781461313786
Einband
Taschenbuch
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
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