High-Resolution X-Ray Scattering - Softcover

 
9781475740516: High-Resolution X-Ray Scattering
Softcover
ISBN 10: 1475740514 ISBN 13: 9781475740516
Verlag: Springer, 2014

Inhaltsangabe

1 Elements for Designing an X-Ray Diffraction Experiment.- 2 Diffractometers and Reflectometers.- 3 Scans and Resolution in Angular and Reciprocal Space.- 4 Basic Principles.- 5 Kinematical Theory.- 6 Dynamical Theory.- 7 Semikinematical Theory.- 8 Determination of Layer Thicknesses of Single Layers and Multilayers.- 9 Lattice Parameters and Strains in Epitaxial Layers and Multilayers.- 10 Diffuse Scattering From Volume Defects in Thin Layers.- 11 X-Ray Scattering by Rough Multilayers.- 12 X-Ray Scattering by Artificially Lateral Semiconductor Nanostructures.- 13 Strain Analysis in Periodic Nanostructures.- 14 X-Ray Scattering from Self-Organized Structures.- References.

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2014
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1475740514
ISBN 13 
9781475740516
Einband
Taschenbuch
Anzahl der Seiten
428
Herausgeber
Pietsch Ullrich, Holy Vaclav, Baumbach Tilo
Kontakt zum Hersteller
ROXIO
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
22391
Deutschland

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