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![Bild des Verkäufers für Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3 zum Verkauf von ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31296753760.jpg)
Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3
Anbieter: ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS, Lübeck, Deutschland
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Gr.-8° Gebundene Ausgabe. Zustand: Neu. Pietsch, Jürgen M (illustrator). 1. Auflage. 96 Seiten Gebundenes Buch. Buch ist neu, aus priv. Vorbesitz. original eingeschweisst. ISBN: 9783000084423 Wir senden umgehend mit beiliegender MwSt.Rechnung. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 561.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Buch 59 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
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Hardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Neuerwerbungen 1974-1979.
Sprache: Deutsch
Verlag: Museum für Kunst- und Kulturgeschichte, Lübeck, 1980
kartonierte Ausgabe. Zustand: Gut. 101 Seiten, schwarz-weiße Abbildungen, Inhaltsverzeichnis, abgekürzt zitierte Literatur, illustrierter Einband Dieser Auswahlkatalog erschien anläßlich der Ausstellung "Neuerwerbungen 1974-1979" im Museum Behnhaus vom 13. Juni bis 20. Juli 1980. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 200.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
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Hardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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![Beispielbild für High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo zum Verkauf von SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780387400921-de-300.jpg)
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo
Anbieter: SpringBooks, Berlin, Deutschland
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Hardcover. Zustand: Very Good. 2. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, USA
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Zustand: New. pp. 428.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Buch 59 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Ein fein Bergmannig Porcelan: Abbilder vom Bergbau in "Weissem Gold" (Veröffentlichungen aus dem Deutschen Bergbau-Museum)
Anbieter: Antiquariat Kastanienhof, Pirna, Deutschland
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Hardcover. Zustand: Sehr gut. 28,19 x 22,86 x 2,54 Gebundene Ausgabe, SEHR GUTES EXEMPLAR--- Für Ihre Zufriedenheit versenden wir mit DHL und ausschließlich mit Trackingcode für eine sichere Sendungsverfolgung! Weitere Angebote unter antiquariat-kastanienhof , 365 Seiten. nein.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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High-Resolution X-Ray Scattering (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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High-Resolution X-Ray Scattering
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers. 428 pp. Englisch.
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 428 241 Illus.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 428.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures | Ullrich Pietsch (u. a.) | Taschenbuch | Advanced Texts in Physics | xvi | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441923073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 428 pp. Englisch.
