Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Softcover

Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph

 
9781475790283: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

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Inhaltsangabe

1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

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Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  0306421402 ISBN 13:  9780306421402
Verlag: Springer, 1986
Hardcover