Verwandte Artikel zu Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysi...
Zu dieser ISBN ist aktuell kein Angebot verfügbar.
Inhaltsangabe
1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum2013
- ISBN 10 1475790287
- ISBN 13 9781475790283
- EinbandPaperback
- SpracheEnglisch
- Anzahl der Seiten476
- Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar
(Keine Angebote verfügbar)
Buch Finden: Kaufgesuch aufgebenSie finden Ihr gewünschtes Buch nicht? Wir suchen weiter für Sie. Sobald einer unserer Buchverkäufer das Buch bei AbeBooks anbietet, werden wir Sie informieren!
Kaufgesuch aufgeben
