VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability - Softcover

 
9781493300860: VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Softcover
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Verlag: Morgan Kaufmann, 2014

Inhaltsangabe

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Morgan Kaufmann
Erscheinungsdatum
2014
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1493300865
ISBN 13 
9781493300860
Einband
Taschenbuch
Anzahl der Seiten
812
Herausgeber
Wang Laung-Terng
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
Nicht verfügbar

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