Vlsi test principles architectures (13 Ergebnisse)
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Zustand: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes KönigreichChiron Media
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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Anbieter: Biblios, frankfurt am main, HESSE, DeutschlandBiblios
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hardcover. Zustand: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
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Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Paperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Zustand: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.
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Paperback. Zustand: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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