Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - Softcover

Egerton, R.F.

 
9783319398785: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Softcover
ISBN 10: 3319398784 ISBN 13: 9783319398785
Verlag: Springer, 2016

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Inhaltsangabe

An Introduction to Microscopy.- Electron Optics.- The Transmission Electron Microscope.- TEM Specimens and Images.- The Scanning Electron Microscope.- Analytical Electron Microscopy.- Special Topics.- Appendix: Mathematical Derivations.

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2016
Sprache
Englisch
ISBN 10 
3319398784
ISBN 13 
9783319398785
Einband
Taschenbuch
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Deutschland

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