Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures - Softcover

Buch 109 von 227: Springer Tracts in Modern Physics

Schubert, Mathias

 
9783540804291: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

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9783540232490: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics, 209, Band 209)

Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  3540232494 ISBN 13:  9783540232490
Verlag: Springer, 2004
Hardcover