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Inhaltsangabe
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
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SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
Anbieter: OM Books, Sevilla, SE, Spanien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Usado - bueno. Bestandsnummer des Verkäufers 9783540853176
Anzahl: 1 verfügbar