CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test

Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Manoj Sachdev

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2010
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

Verkauft von AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland

AbeBooks-Verkäufer seit 14. August 2006

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Neu - Softcover

Zustand: Neu

Preis:
EUR 175,77
EUR 61,65 Versand
Versand von Deutschland nach USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen