Manoj sachdev (65 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Patrico Books, Apollo Beach, FL, USAPatrico Books
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Sprache: Englisch
Verlag: New Age International Publisher 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
- Internationale Ausgabe
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
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Sprache: Englisch
Verlag: New Age International Publisher 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: SMASS Sellers, IRVING, TX, USASMASS Sellers
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Zustand: New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: HPB-Red, Dallas, TX, USAHPB-Red
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
- Softcover
Anbieter: HPB-Red, Dallas, TX, USAHPB-Red
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paperback. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes KönigreichRarewaves.com USA
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Hardback. Zustand: New. 2006 ed.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Softcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
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Zustand: New. pp. 192.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
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EUR 169,91
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Zustand: New. pp. 352 2nd Edition.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
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EUR 65,39
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 352 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated… circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USASolr Books
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EUR 169,05
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Zustand: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 164,52
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 164,52
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an in…tegral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
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EUR 181,35
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
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EUR 164,49
EUR 17,38 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
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Zustand: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Zustand: New. In.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 176,73
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Softcover
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes KönigreichMispah books
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Paperback. Zustand: Like New. Like New. book.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes KönigreichRarewaves.com UK
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EUR 136,21
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Hardback. Zustand: New. 2006 ed.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
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EUR 194,53
EUR 17,38 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes KönigreichMispah books
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EUR 184,99
EUR 28,97 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Hardcover. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Buch 2 von 34. Buch 2 von 34 - Integrated Circuits and Systems
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
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EUR 217,97
EUR 2,32 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
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EUR 149,00
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juer…gen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 21 von 40. Buch 21 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
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EUR 228,54
EUR 3,50 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 4 verfügbar
Zustand: New. pp. 212.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 18 von 40. Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 225,62
EUR 13,88 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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