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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Patrico Books, Apollo Beach, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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hardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Patrico Books, Apollo Beach, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: As New. Ships Out Tomorrow!
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paperback. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsSprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10: 0387257624 ISBN 13: 9780387257624
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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EUR 118,64
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Covers the latest research that has been carried on in the area of thermal and power management of integrated circuits with emphasis on performance and reliability of ICs at system and circuit levelNo book provides cohesive treatment of the materi.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsSprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York, 2010
ISBN 10: 144193832X ISBN 13: 9781441938329
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an integral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 175,03
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 172,66
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 352 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 176,28
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsSprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10: 0387257624 ISBN 13: 9780387257624
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Buch 2 von 34: Integrated Circuits and SystemsAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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EUR 217,62
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Zustand: New. pp. 248.
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Zustand: New. pp. 248.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, Springer, 2010
ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.
