CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))

Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov, Andrei, Sachdev, Manoj

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Verlag: Springer, 2010
Sprache: Englisch
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