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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Patrico Books, Apollo Beach, FL, USA
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 146,12
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and testProvides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise MarginIntroduces the concept of stability fault modelling.
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Buch 21 von 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 144,94
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