Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Netherlands Dez 2000, 2000

0792366867 / 9780792366867

Serie: Buch 4 von 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy. 636 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780792366867

Titel
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Autor
Gianfranco Pacchioni
Verlag
Springer Netherlands Dez 2000
Erscheinungsjahr
2000
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0792366867
ISBN-13
9780792366867
Artikelgewicht
949 Gramm
Abmessungen
235x155x34 mm
Serie
Buch 4 von 241: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry

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