Denoising in digital speckle pattern interferometry by Riesz wavelets

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2018, 2018

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Over the years, optical measurement techniques have been the problem-solving backbone of many engineering applications such as nondestructive testing of materials, measurement of various material properties, structural analysis, and experimental mechanics. Digital speckle pattern interferometry gives these measurements with high accuracy. The main challenges in speckle interferometry manifest on phase mapping estimation, leading to the direct determination of the measurement. Furthermore, fringes correlation are characterized by a strong speckle noise defined as a granular structure resulting from self-interference of coherent waves randomly scattered from a rough surface, making it capable of giving the measurement of physical magnitude with an accuracy of the order of wavelength used. For this reason, several papers are published annually in the speckle noise reduction domain. 56 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9786139873821

Titel
Denoising in digital speckle pattern interferometry by Riesz wavelets
Autor
Abdelkrim Nassim
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Jul 2018
Veröffentlichungsjahr
2018
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
6139873827
ISBN-13
9786139873821
Artikelgewicht
102 Gramm
Abmessungen
220x150x4 mm

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