Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, Springer Aug 1993, 1993

0442006438 / 9780442006433

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a 194 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780442006433

Titel
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Autor
Eugene R. Hnatek
Verlag
Springer US, Springer Aug 1993
Erscheinungsjahr
1993
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0442006438
ISBN-13
9780442006433
Artikelgewicht
462 Gramm
Abmessungen
241x160x16 mm

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