Extended Defects in Semiconductors (Paperback)

Sprache: Englisch

Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2014

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Paperback. The elucidation of the effects of structurally extended defects on electronic properties of materials is especially important in view of the current advances in electronic device development that involve defect control and engineering at the nanometer level. This book surveys the properties, effects, roles and characterization of extended defects in semiconductors. The basic properties of extended defects (dislocations, stacking faults, grain boundaries, and precipitates) are outlined, and their effect on the electronic properties of semiconductors, their role in semiconductor devices, and techniques for their characterization are discussed. These topics are among the central issues in the investigation and applications of semiconductors and in the operation of semiconductor devices. The authors preface their treatment with an introduction to semiconductor materials and conclude with a chapter on point defect maldistributions. This text is suitable for advanced undergraduate and graduate students in materials science and engineering, and for those studying semiconductor physics. A discussion of the basic properties of structurally extended defects, their effect on the electronic properties of semiconductors, their role in semiconductor devices, and techniques for their characterization. This text is suitable for advanced undergraduate and graduate students in materials science and engineering, and for those studying semiconductor physics. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781107424142

Titel
Extended Defects in Semiconductors (Paperback)
Autor
D.B. Holt
Verlag
Cambridge University Press, Cambridge
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
new
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
1107424143
ISBN-13
9781107424142

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