Failure Analysis of Integrated Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Jan 1999, 1999

0412145618 / 9780412145612

Serie: Buch 195 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780412145612

Titel
Failure Analysis of Integrated Circuits
Autor
Lawrence C. Wagner
Verlag
Springer US Jan 1999
Erscheinungsjahr
1999
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0412145618
ISBN-13
9780412145612
Artikelgewicht
582 Gramm
Abmessungen
241x160x20 mm
Serie
Buch 195 von 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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