Failure Analysis of Integrated Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Nov 2012, 2012

1461372313 / 9781461372318

Serie: Buch 195 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. 272 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461372318

Titel
Failure Analysis of Integrated Circuits
Autor
Lawrence C. Wagner
Verlag
Springer US Nov 2012
Erscheinungsjahr
2012
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461372313
ISBN-13
9781461372318
Artikelgewicht
417 Gramm
Abmessungen
235x155x15 mm
Serie
Buch 195 von 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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