Failure Analysis of Integrated Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Jan 1999, 1999

0412145618 / 9780412145612

Serie: Buch 195 von 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 276 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9780412145612

Titel
Failure Analysis of Integrated Circuits
Autor
Lawrence C. Wagner
Verlag
Springer, Springer Jan 1999
Erscheinungsjahr
1999
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0412145618
ISBN-13
9780412145612
Artikelgewicht
582 Gramm
Abmessungen
241x160x20 mm
Serie
Buch 195 von 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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