High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Sprache: Englisch

Verlag: CRC Press, 1998

0850667585 / 9780850667585

Anbieter: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, USABennettBooksLtd

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 17. April 2008

Hardcover

Zustand: Neu

EUR 170,27

EUR 6,14 Versand 
Versand innerhalb von USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb
30 Tage kostenlose Rückgabe

Artikelbeschreibung des Verkäufers

In shrink wrap. Looks like an interesting title.

Bestandsnummer des Verkäufers Q-0850667585

Titel
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Autor
Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.
Verlag
CRC Press
Erscheinungsjahr
1998
Zustand
New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0850667585
ISBN-13
9780850667585
Artikelgewicht
25 Unzen
Abmessungen
10x7x0

BennettBooksLtd

Los Angeles, CA, USA

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 17. April 2008

Versandkosten innerhalb von USA

Artikel7 bis 30 Werktage3 bis 14 Werktage
Erster ArtikelEUR 6,14EUR 8,78
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay