Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Feb 2014, 2014

1461363837 / 9781461363835

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected that the results may be useful for yield estimates, fault statistics and for the design of fault tolerant structures. The reviewers were not in favor of this proposal and it disappeared in the drawers. Shortly afterwards some microelectronics industries realized that their survival may depend on a better integration between technology-and design-laboratories. For years the 'silicon foundry' concept had suggested a fairly rigorous separation between the two areas. The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's). Those fabrication plants would be concentrated with only a few market leaders. 196 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461363835

Titel
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Autor
José Pineda de Gyvez
Verlag
Springer US Feb 2014
Erscheinungsjahr
2014
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461363837
ISBN-13
9781461363835
Artikelgewicht
306 Gramm
Abmessungen
235x155x11 mm

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