Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami

ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

Verkauft von Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich

AbeBooks-Verkäufer seit 11. Juni 2025

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Neu - Hardcover

Zustand: Neu

Preis: EUR 207,11 Währung umrechnen
EUR 2,31 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach Deutschland Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen