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9781848219366 - Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2, Band 2) von Dahoo, Pier... (19 Ergebnisse)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Hardcover)
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, London, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
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Hardcover. Zustand: new. Hardcover. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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Zustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Zustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Hardcover)
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, London, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australien
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Hardcover. Zustand: new. Hardcover. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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