Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein

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Sprache: Englisch

Verlag: Springer US Mai 2013, 2013

1461349699 / 9781461349693

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 720 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461349693

Titel
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor
Joseph Goldstein
Verlag
Springer US Mai 2013
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461349699
ISBN-13
9781461349693
Auflage
3. Auflage
Artikelgewicht
1.330 Gramm
Abmessungen
254x178x39 mm

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