Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein

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Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Mai 2013, 2013

1461349699 / 9781461349693

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The text has been used in educating over 3,000 students at the Lehigh SEM short course as well as thousands of undergraduate and graduate students at universities across the globe. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 720 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verkäufers 9781461349693

Titel
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor
Joseph Goldstein
Verlag
Springer, Springer Mai 2013
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461349699
ISBN-13
9781461349693
Auflage
3. Auflage
Artikelgewicht
1.330 Gramm
Abmessungen
254x178x39 mm

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