Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Sprache: Englisch

Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2013

1461349699 / 9781461349693

Artikelbild 1 von 2.

Anbieter: Rarewaves.com USA, London, London, Vereinigtes KönigreichRarewaves.com USA

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 11. Juni 2025

Artikel dieses Verkäufers ansehen
Softcover

Zustand: Neu

EUR 128,13

 Versand gratis 
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

In den Warenkorb
Kostenlose Rückgaben innerhalb von 30 Tagen

Artikelbeschreibung vom Verkäufer

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The ?eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and "through-the-lens" detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping.

Bestandsnummer des Verkäufers LU-9781461349693

Titel
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor
Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael
Verlag
Springer-Verlag New York Inc., US
Veröffentlichungsjahr
2013
Zustand
New
Einband
Paperback
Sprache
Englisch
ISBN-10
1461349699
ISBN-13
9781461349693
Ausgabe
Third Edition 2003.

Rarewaves.com USA

London, London, Vereinigtes Königreich

Verkäufer/-in mit 5 Sternen

AbeBooks-Verkäufer/-in seit 11. Juni 2025

Versandkosten von Vereinigtes Königreich nach USA

Artikel9 bis 14 Werktage9 bis 14 Werktage
Erster ArtikelEUR 0,00EUR 0,00
Die Versandzeiten werden von den Verkäuferinnen und Verkäufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, können Verzögerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Gebühren sind von der Käuferin bzw. dem Käufer zu tragen. Die Verkäuferin bzw. der Verkäufer kann Sie bezüglich zusätzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen möglichen Anstieg der Versandkosten für Ihre Artikel auszugleichen.

Zahlungsarten

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Unternehmensdaten der Verkäuferin bzw. des Verkäufers

RAREWAVES.COM LIMITED

Elsley Court, 20-22 Great Titchfield Street
London, Vereinigtes Königreich W1W 8BE