Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)

Sprache: Englisch

Verlag: U.S.A.: Oxford University Press, 1994

019509204X / 9780195092042

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Titel
Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)
Autor
Sarid, Dror
Verlag
U.S.A.: Oxford University Press
Veröffentlichungsjahr
1994
Zustand
Good
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
019509204X
ISBN-13
9780195092042
Ausgabe
2nd Edition
Verkäuferkataloge
Electronics, Physics, Science

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