Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences). Dieser Artikel ist nicht verfügbar.
Sprache: Englisch
Verlag: Oxford University Press, 1994
- Hardcover
- Neu
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Artikelbeschreibung des Verkäufers
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- Titel
- Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
- Autor
- Sarid, Dror
- Verlag
- Oxford University Press
- Erscheinungsjahr
- 1994
- Zustand
- New
- Einband
- Hardcover
- Sprache
- Englisch
- ISBN-10
- 019509204X
- ISBN-13
- 9780195092042
- Artikelgewicht
- 799 Gramm
This edition updates the survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography.
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