Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)

Foster, Adam, Hofer, Werner A.

ISBN 10: 0387400907 ISBN 13: 9780387400907
Verlag: Springer, 2006
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Befriedigend Hardcover

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