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9780387400907 - Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology) von Foster, Adam; Hofer, Werner A. (9 Ergebnisse)
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Scanning Probe Microscopy
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Scanning Probe Microscopy. Atomic Scale Engineering by Forces and Currents.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
116 figs., XIV, 281 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. NanoScience and Technology Sprache: Englisch.
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SCANNING PROBE MICROSCOPY: ATOMIC SCALE ENGINEERING BY FORCES AND CURRENTS
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Scanning Probe Microscopy, Atomic Scale Engineering By Forces And Currents
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Scanning Probe Microscopy, Atomic Scale Engineering By Forces And Currents
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Zustand: Used. pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: Used. pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Internationale AusgabeSCANNING PROBE MICROSCOPY (HB 2006)
Anbieter: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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