Space Radiation Monitoring Instrumentation

Sprache: Englisch

Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing Jan 2018, 2018

6136718251 / 9786136718255

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The charged particles can cause adverse effects on spacecraft and electronics components. Radiation effects from high energy particles cause spacecraft surface charging, degradation or permanent failure of the electronic components and sub systems by single event effects, displacement damages and ionizing dose effects in the spacecraft. The effects of ion-induced charge transients can be divided in the basic three categories: Total ionizing dose (TID), linear energy transfer (LET) and Single event upset (SEU).TID effect is accumulation of ionizing energy deposited over a long period on semiconductor materials. TID occurs mostly due to the electrons and protons, which can cause failure of device. The total energy loss or transfer to the material per unit distance of travel trough the material is called LET Electronic devices can be disturbed by the passage of energetic electrons, protons or heavier ions that may alter the state of a circuit, producing 'single event effects'. SEU and multiple-bit upset (MBU) which change the logic state of internal nodes of the circuit. It can be reset by different electrical operations. These errors are called soft errors which are recoverable. 56 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9786136718255

Titel
Space Radiation Monitoring Instrumentation
Autor
Keyur Mahant
Verlag
LAP LAMBERT Academic Publishing Jan 2018
Erscheinungsjahr
2018
Zustand
Neu
Einband
Taschenbuch
Sprache
Englisch
ISBN-10
6136718251
ISBN-13
9786136718255
Artikelgewicht
102 Gramm
Abmessungen
220x150x4 mm

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