Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy (Paperback or Softback)

Ness, Stanley J.

ISBN 10: 128686237X ISBN 13: 9781286862377
Verlag: Biblioscholar 10/26/2012, 2012
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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