Test Vector Reordering Method for Low Power Testing: Test Vector Reordering Method for Minimizing Power Dissipation in VLSI Circuits using Functional Metrics

Paramasivam, K., Gunavathi, K.

ISBN 10: 3659180769 ISBN 13: 9783659180767
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2012
Sprache: Englisch
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