Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering (252))

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2013

3319005324 / 9783319005324

Serie: Buch 92 von 548 - Lecture Notes in Electrical Engineering

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Titel
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering (252))
Autor
Liu, Xiao, Xu, Qiang
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
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Buchtyp
book
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319005324
ISBN-13
9783319005324
Serie
Buch 92 von 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

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