Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, Springer Jun 2013, 2013

3319005324 / 9783319005324

Serie: Buch 92 von 548 - Lecture Notes in Electrical Engineering

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 124 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783319005324

Titel
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Autor
Xiao Liu
Verlag
Springer, Springer Jun 2013
Erscheinungsjahr
2013
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3319005324
ISBN-13
9783319005324
Artikelgewicht
360 Gramm
Abmessungen
241x160x11 mm
Serie
Buch 92 von 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

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