VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))

Sprache: Englisch

Verlag: Morgan Kaufmann, 2006

0123705975 / 9780123705976

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Titel
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Autor
Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen; Wen, Xiaoqing
Verlag
Morgan Kaufmann
Erscheinungsjahr
2006
Zustand
New
Einband
hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0123705975
ISBN-13
9780123705976
Artikelgewicht
62 Unzen
Abmessungen
8x2x9

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