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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale And Application Of Ieee Std. 1500 (frontiers In Electronic Testing)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
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Zustand: New. pp. 312.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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The Core Test Wrapper Handbook
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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The Core Test Wrapper Handbook
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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EUR 188,17
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. Like New. book.
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The Core Test Wrapper Handbook
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingVerlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10: 0387307516 ISBN 13: 9780387307510
Sprache: Englisch
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. 2006 ed. In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Guides engineers through the process of building a 1500 wrapperProvides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500 Focus on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choice.
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The Core Test Wrapper Handbook
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingVerlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10: 0387307516 ISBN 13: 9780387307510
Sprache: Englisch
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EUR 98,54
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Buch 14 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
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