Ashok m j (111 Ergebnisse)
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Soft cover. Zustand: New. ISBN:9788178063416,169pp.
Sprache: Englisch
Verlag: Jaypee Brothers Medical Publishers (P) Ltd., 2010
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Zustand: New. pp. 288 1st Edition.
Verlag: Pustak Mahal
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Hardback or Cased Book. Zustand: New. Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378. Book.
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Science and Society: An Independent Journal of Marxism, Volume 51, Number 2, Summer 1987
David Goldway (ed.); contributors - JM Barbalet; Irving Adler; Ashok Rudra; David Laibman; Roger Gottlieb; Alan Carling; Sheila Delany
Verlag: NY: John Jay College, 1987, 1987
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In den WarenkorbPaper bound, Pp130-256. As new. Contents: J.M. Barbalet on The Labor Aristocracy in Context; Irving Adler on Some Philosophical Implications of Modern Mathematics; Ashok Rudra on Lessons for Third World Marxists; David Laibman on Modes and Transitions; Roger Gottlieb on Historical Laws, Social Primacy; Alan Carling on Classes and Choices; Sheila Delany on Two Studies of Marriage; plus book reviews. 215 grams - ships letter mail.…
Defect & Impurity Engineered Semiconductors & Devices April,1995 (Materials Research Society Symposium Proceedings Volume 378)
Ashok, S./ J.Chevalier; I.Akasaki; N.M.Johnson; B.L.Sopori (eds.)
Verlag: MRS, Materials Research Society, c.1995, 1995
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In den Warenkorbhardcover. Zustand: Good. MRS, Materials Research Society, Pittsburgh. c.1995, 8vo. cloth, 1054pp., dj from a neighboring book partly peeled onto rear cover, ow VG $.
Sprache: Englisch
Verlag: Jaypee Brothers Medical Publishers (P) Ltd., 2010
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Zustand: New. pp. 324 1st Edition.
Sprache: Englisch
Verlag: Jaypee Brothers Medical Publishers (P) Ltd., 2010
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Hardback. Zustand: New. Defect engineering has come of age. That theme is well documented by both the academic and industrial research communities in this book from MRS. Going beyond defect control, the book explores the engineering of desired properties in semiconductor materials and devices through the deliberate introduction and manipulation of defects and impurities. Papers are grouped around ten distinct topics covering materials, processing and devices. Topics include: grown-in defects in bulk crystals; grown-in defects in thin films; gettering and related phenomena; hydrogen interaction with semiconductors; defect issues in widegap semiconductors; defect characterization; ion implantation and process-induced defects; defects in devices; interfaces, quantum wells and superlattices; and defect properties, reaction, activation and passivation.…
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Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378: Symposium Held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A (MRS Proceedings)
Edited by I. Akasaki , S. Ashok , J. Chevallier , N. M. Johnson , B. L. Sopori
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Zustand: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Akasaki, I. (Meijo University, Japan); Ashok, S.; Chevallier, J.; Johnson, N. M.; Sopori, B. L. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 1082 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 229 x 152 x 56. Weight in Grams: 1600. . 1995. 1st Edition. hardcover. . . . . …
Temporal Bone Imaging
Hoeffner, Ellen G., M.D. (EDT); Mukherji, Suresh K., M.D. (EDT); Gandhi, Dheeraj, M.D. (EDT); Gomez-Hassan, Diana, Ph.D. (EDT); Gujar, Sachin, M.D. (EDT)
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Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378: Symposium Held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A (MRS Proceedings)
Edited by I. Akasaki , S. Ashok , J. Chevallier , N. M. Johnson , B. L. Sopori
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Zustand: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Akasaki, I. (Meijo University, Japan); Ashok, S.; Chevallier, J.; Johnson, N. M.; Sopori, B. L. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 1082 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 229 x 152 x 56. Weight in Grams: 1600. . 1995. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. …
Advances in Machine Learning and Data Mining for Astronomy (Chapman & Hall/CRC Data Mining and Knowledge Discovery Series)
Michael J. Way, Jeffrey D. Scargle, Kamal M. Ali, Ashok N. Srivastava
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC 2016-11-16, 2016
Serie: Buch 26 von 56 - Chapman & Hall/CRC Data Mining and Knowledge Discovery
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Temporal Bone Imaging
Hoeffner, Ellen G., M.D. (EDT); Mukherji, Suresh K., M.D. (EDT); Gandhi, Dheeraj, M.D. (EDT); Gomez-Hassan, Diana, Ph.D. (EDT); Gujar, Sachin, M.D. (EDT)
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Advances in Machine Learning and Data Mining for Astronomy
Way, Michael J. (EDT); Scargle, Jeffrey D. (EDT); Ali, Kamal M. (EDT); Srivastava, Ashok N. (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2016
Serie: Buch 26 von 56 - Chapman & Hall/CRC Data Mining and Knowledge Discovery
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Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Advances in Machine Learning and Data Mining for Astronomy
Way, Michael J. (EDT); Scargle, Jeffrey D. (EDT); Ali, Kamal M. (EDT); Srivastava, Ashok N. (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2016
Serie: Buch 26 von 56 - Chapman & Hall/CRC Data Mining and Knowledge Discovery
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Temporal Bone Imaging
Hoeffner, Ellen G., M.D. (EDT); Mukherji, Suresh K., M.D. (EDT); Gandhi, Dheeraj, M.D. (EDT); Gomez-Hassan, Diana, Ph.D. (EDT); Gujar, Sachin, M.D. (EDT)
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