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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Advanced Laser Diode Reliability
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
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Advanced Laser Diode Reliability
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Zustand: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Advanced Laser Diode Reliability
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Advanced Laser Diode Reliability
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Advanced Laser Diode Reliability
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Advanced Laser Diode Reliability (Durability, Robustness and Reliability of Photonic Devices)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Advanced Laser Diode Reliability
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices: Methodology and Evaluation
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed. 172 pp. Englisch.
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Advanced Laser Diode Reliability
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 258 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed.
