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Zustand: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
Zustand: New.
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 258 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction. Englisch.
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction.