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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030516123 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Nov 2022, 2022
ISBN 10: 3031153448 ISBN 13: 9783031153440
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware -This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 124 pp. Englisch.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2022
ISBN 10: 3031153448 ISBN 13: 9783031153440
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits (eng)
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
EUR 47,23
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniqu.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
EUR 47,23
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an accessible, comprehensive introduction to soft errorsDescribes an easy to follow procedure for modeling, analysis, and estimation of soft error rate of digital circuitsIncludes state-of-the art soft error aware CAD algorithms.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing Nov 2023, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits. 124 pp. Englisch.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing Nov 2022, 2022
ISBN 10: 3031153448 ISBN 13: 9783031153440
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits. 124 pp. Englisch.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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EUR 117,87
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 119,84
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