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Surface and Thin Film Analysis: Principles, Instrumentation, Applications
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Book contains pen markings. In poor condition, suitable as a reading copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,900grams, ISBN:9783527304585.
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Surface and thin film analysis Principles, instrumentation, applications
Anbieter: Gebrauchtbücherlogistik H.J. Lauterbach, Gummersbach, NRW, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Sehr gut. 25cm; XVII, 336 S. Hardcover. Sprache: Englisch, Ill., graph. Darst. Zustand: Sehr Gut eher ungelesen; Besitzerstempel; * Die Photos sind original von uns erstellt worden, u.a. erkennbar an einem kleinen weißen Stück Papier im oberen Schnitt. Ab und an verwenden Suchmaschinen Verlagsphotos, bei den Portalen selbst, werden aber nur unsere Originalphotos gezeigt.
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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation and Applications
Anbieter: Swan Trading Company, GEORGETOWN, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Good. Hardcover ex-library with typical marks shows moderate cover wear. Text is unmarked. Ships FAST!
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Hardcover. Zustand: As New. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen. Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. Completely revised and updated, sections include electron, ion and photon detection, as well as scanning microscopy, while new chapters have been added to cover such recently developed techniques as SNOM, SERS, and laser ablation. Over 500 references and a list of equipment suppliers make this a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry.
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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications (2nd Ed)
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,850grams, ISBN:9783527320479.
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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications (2nd Ed)
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1250grams, ISBN:9783527320479.
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Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Surface and Thin Film Analysis : A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Surface and Thin Film Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley-VCH Verlag GmbH, DE, 2011
ISBN 10: 3527320474 ISBN 13: 9783527320479
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 219,13
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett) ". a useful resource." (Journal of the American Chemical Society) 2nd, Completely Revised and Enlarged Edition.
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Gebunden. Zustand: New. .a useful resource. Journal of the American Chemical SocietyGernot Friedbacher is Associate Professor of Analytical Chemistry at the Vienna University of Technology. His research activities are focused on investigation of surfaces and surface proc.
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Zustand: New. pp. 558.
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Surface and Thin Film Analysis
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley-VCH Verlag GmbH, DE, 2011
ISBN 10: 3527320474 ISBN 13: 9783527320479
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett) ". a useful resource." (Journal of the American Chemical Society) 2nd, Completely Revised and Enlarged Edition.
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Surface and Thin Film Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Surface and Thin Film Analysis
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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